隨著科技的飛速發(fā)展，光學(xué)檢測(cè)已不能滿足對(duì)材料領(lǐng)域微觀構(gòu)造觀測(cè)的需求。而傳統(tǒng)化大型的掃描電鏡價(jià)錢過(guò)高，使眾多有微觀構(gòu)造觀測(cè)需求的客戶望而生畏，進(jìn)而臺(tái)式掃描電鏡憑著性價(jià)比高、維系低成本、使用方便快捷等優(yōu)點(diǎn)漸漸踏入舞臺(tái)，漸漸變成材料領(lǐng)域用戶常用的測(cè)試工具。
   對(duì)于材料微觀構(gòu)造的觀測(cè)往往需求體現(xiàn)其極為實(shí)際的形態(tài)構(gòu)造，眾多材料并不有著導(dǎo)電性能，當(dāng)掃描電鏡中的入射電子束與導(dǎo)電性能不好的樣品作用時(shí)，電子將在樣品表層生成不穩(wěn)定電場(chǎng)，使拍攝的圖像發(fā)生異常反差的白色或黑色地區(qū)，甚至于造成突變，嚴(yán)重影響觀測(cè)和圖像質(zhì)量，這種情況稱之為“放電現(xiàn)象”或“荷電現(xiàn)象”。
   處理荷電有很多種方式，在低電壓下觀測(cè)樣品，使入射電子相當(dāng)于造成的二次電子和背散射電子的總數(shù)，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)電荷的均衡；亦或是在樣品表層噴鍍連續(xù)導(dǎo)電層，使其表層有著良好導(dǎo)電性能都能夠有效的防止荷電現(xiàn)象。
  臺(tái)式掃描電鏡有著優(yōu)異的低電壓成像能力，在不允許做樣品噴金處理的前提條件下可以有效的處理導(dǎo)電性能能很差或絕緣樣品的成像問(wèn)題。再結(jié)合大樣品臺(tái)，點(diǎn)擊隨意有興趣的位置，視野就可以迅速移動(dòng)到該位置，簡(jiǎn)單協(xié)助用戶實(shí)現(xiàn)觀測(cè)。