德國Zeiss三坐標(biāo) 的技術(shù)優(yōu)點。材質(zhì)優(yōu)點：現(xiàn)階段世界上僅有ZEISS和LK選用陶瓷材料！危害Zeiss三坐標(biāo) 的精確度主要包括這三個，彎曲變形；扭曲變形；熱膨脹。到現(xiàn)在為止，陶瓷材料因為他的獨特性，是三坐標(biāo)橫梁和主軸的比較適合運用的原材料！ 探頭體系：探頭技術(shù)是Zeiss三坐標(biāo) 至關(guān)重要的其中一部分，ST探頭選用ZEISS探觸技術(shù)（迄今為止許多三坐標(biāo)廠家都采用英國RENISHAW的探頭體系，只有極少數(shù)實力雄厚的廠家應(yīng)用個人研發(fā)的更加好的探頭體系。）應(yīng)用了雙觸發(fā)基本原理，從而使得探頭的觸力大大的降低，可以延長探頭的使用期，而且提升了探觸的準(zhǔn)確度；該機型配置探針自行替換裝置.(替換架),能夠進一步提高設(shè)備檢測的效果,完成了探針體系的自行替換而且,探針在自行替換的過程當(dāng)中,無需重新進行校正,這些都是ZEISS探針自行更換系統(tǒng)的高級獨到之處。另外的關(guān)鍵獨到之處是Zeiss的探頭體系都不選用旋轉(zhuǎn)形式（可查看：三坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)精度損失問題），這主要是用來提升設(shè)備精確度，略有機械基本常識的人都能理解下述關(guān)系式UROT=1000*tgΔα*LEXT。當(dāng)中UROT是選用旋轉(zhuǎn)探頭時，由于探頭本身存有旋轉(zhuǎn)定位誤差而造成的設(shè)備精確度不確定度，單位是um；Δα乃是探頭本身旋轉(zhuǎn)時旋轉(zhuǎn)重復(fù)定位誤差；LEXT是從探針球心到旋轉(zhuǎn)探頭旋轉(zhuǎn)中心之間的距離。