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蔡司掃描電鏡SEM顯微鏡的檢測(cè)原理

2024年05月10日

蔡司掃描電鏡（SEM）顯微鏡的檢測(cè)原理主要基于電子與物質(zhì)的相互作用。以下是詳細(xì)的原理說明： 1.電子束的產(chǎn)生與聚焦：在SEM中，首先由電子槍在鏡筒的頂部產(chǎn)生一束高能電子。這些電子經(jīng)過聚光鏡和物鏡的聚焦和縮小，形成具有特定能量、束流強(qiáng)度和束斑直徑的微細(xì)電子束。 2.掃描過...

蔡司三坐標(biāo)CAPTUM檢測(cè)設(shè)備：五金塑膠件測(cè)量的精準(zhǔn)利器

2024年04月24日

在五金塑膠件制造領(lǐng)域，高精度的測(cè)量技術(shù)是保證產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率的關(guān)鍵。蔡司三坐標(biāo)CAPTUM檢測(cè)設(shè)備以其卓越的測(cè)量精度和廣泛的應(yīng)用范圍，成為五金塑膠件測(cè)量的精準(zhǔn)利器。蔡司三坐標(biāo)CAPTUM檢測(cè)設(shè)備擁有三個(gè)坐標(biāo)軸--X軸、Y軸和Z軸，這三個(gè)軸可以分別移動(dòng)，使測(cè)量?jī)x能夠在三個(gè)方...

蔡司X-ray無損探傷檢測(cè)設(shè)備：半導(dǎo)體芯片制造的“**眼”

2024年04月13日

在科技日新月異的今天，半導(dǎo)體芯片作為現(xiàn)代電子設(shè)備的核心部件，其質(zhì)量與安全直接關(guān)系到整個(gè)電子系統(tǒng)的性能和穩(wěn)定性。然而，隨著芯片制造技術(shù)的不斷提升，其內(nèi)部結(jié)構(gòu)愈發(fā)復(fù)雜，傳統(tǒng)的檢測(cè)手段已難以滿足日益嚴(yán)格的質(zhì)量要求。此時(shí)，蔡司X-ray無損探傷檢測(cè)設(shè)備以其卓越的檢測(cè)能力...